Microscope électronique à balayage JEOL - Institut de Recherche en

JEOL JSM-6060LA Principe La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. Le principe consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image de la surface. Fiche technique Dimensions utiles (x,y,z) : 80 x 40 x 50mm Résolution : 3.5nm (30kV), 20nm (10kV) Grossissement : x 8 à x 300 000 EDS Detector    

Microscope Électronique à Balayage (MEB salle-blanche

Microscope Electronique à Balayage de haute résolution (MEB) JSM

Instruments - CIMEN - Centre Interdisciplinaire de Microscopie

ZEISS MEB et FIB-SEM

11 : Microscope électronique à balayage (MEB) modèle JEOL JSM

JSM-IT800 – JEOL

Microscope Electronique à Balayage - Laboratoire Quartz

Microscope Electronique à Balayage - Laboratoire Quartz

Caractérisation en salles blanches – Nano-Rennes

Imagerie – IC2MP – Institut de Chimie des Milieux et Matériaux de

Installation de microscopie - Centre de recherche en nanotechnologie

Applications de la métrologie submicrométrique à la

MEB – MACLE-CVL